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सेमीकंडक्टर आईसी परीक्षण पोगो पिन टॉवर
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सेमीकंडक्टर आईसी परीक्षण पोगो पिन टॉवर

सेमीकंडक्टर आईसी परीक्षण पोगो पिन टॉवर

जांच चयन के प्रारंभिक चरण में, कई पैरामीटर जिन पर विचार करने की आवश्यकता होती है, वे हैं परीक्षण जांच की दूरी, परीक्षण की जाने वाली वस्तु के उपयुक्त सिर प्रकार का चयन, परीक्षण द्वारा किया जाने वाला प्रवाह, परीक्षण गति का स्ट्रोक , और लोचदार बल जिसे चुनने की आवश्यकता है, आदि।
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सेमीकंडक्टर आईसी परीक्षण पोगो पिन टॉवर

सेमीकंडक्टर आईसी परीक्षण पोगो पिन टॉवर परीक्षण पोगो पिन कनेक्टर और पोगो पिन के साथ जोड़ती है।

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सेमीकंडक्टर आईसी परीक्षण पोगो पिन टॉवर

मौजूदा जांच टावरों के साथ पूरी तरह से संगत: 360/900 / 1,080 / 1,320 / 1,620 / 2,070 पिन। एक 18-पिन मॉड्यूल जिसमें 90 सिग्नल पिन प्रति सिंगल मॉड्यूल और एक 10-पिन मॉड्यूल 45 सिग्नल पिन प्रति सिंगल मॉड्यूल के साथ है।

आवेदन स्थान: 224 वर्ग सेंटीमीटर और 114 वर्ग सेंटीमीटर

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सेमीकंडक्टर आईसी परीक्षण पोगो पिन टॉवर: एप्लिकेशन स्पेस का विस्तार करें, पिन मॉड्यूल डिज़ाइन, स्वतंत्र रूप से कॉन्फ़िगर करने योग्य स्थान, विभिन्न पोगो पिन मॉड्यूल समाधान ग्राहकों की आवश्यकताओं के अनुसार प्रदान किए जा सकते हैं-कॉन्फ़िगर करने योग्य 800 से 4,800 पिन।

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सेमीकंडक्टर आईसी परीक्षण पोगो पिन टॉवर

उत्कृष्ट प्रदर्शन सुनिश्चित करने के लिए संपर्क प्रतिरोध माप का प्रमाणन। डिबगिंग टूल, प्रोब टावर पोजीशन टेस्ट टूल, नोड लोकेशन चेक टूल।

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सेमीकंडक्टर आईसी परीक्षण पोगो पिन टॉवर

मॉड्यूलर संरचना पोगो पिन और स्प्रिंग ब्लॉक को विस्तार और बदलने में आसान और बनाए रखने में आसान बनाती है। सभी पारंपरिक पीआईबी बोर्डों और मानक जांच स्टेशनों के साथ संगत। कम तापमान परीक्षण के लिए कवर के साथ अधिक किफायती, उन्नत और अभिनव इंटरफ़ेस समाधान।

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सटीक परीक्षण जांच एक परीक्षण जांच है, जो सटीक विद्युत परीक्षण की प्रक्रिया का एक अनिवार्य हिस्सा है। आर [जीजी] amp; डी और इलेक्ट्रॉनिक सर्किट के उत्पादन की प्रक्रिया में, सिग्नल की निरंतरता और गुणवत्ता का परीक्षण और विश्लेषण करना अक्सर आवश्यक होता है। इस समय, सिग्नल को बिना नुकसान के निकालने के लिए एक सटीक परीक्षण जांच का उपयोग करना आवश्यक है और इसे एकीकृत विश्लेषण के लिए संबंधित आईसीटी या परीक्षण प्रणाली प्रदान करना आवश्यक है।

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सेमीकंडक्टर आईसी परीक्षण पोगो पिन टॉवर

परीक्षण जांच के आवेदन क्षेत्रों के अनुसार, परीक्षण जांच को पारंपरिक आईसीटी जांच, अर्धचालक परीक्षण जांच, आरएफ उच्च आवृत्ति परीक्षण जांच, उच्च वर्तमान जांच, और बैटरी संपर्क जांच में विभाजित किया गया है। इसे पारंपरिक सिंगल-एंडेड पोगो पिन्स, डबल-एंडेड BGA टेस्ट नीडल्स और नीडल स्लीव अडैप्टर डबल-एंडेड नीडल्स में भी विभाजित किया जा सकता है।

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जांच चयन के प्रारंभिक चरण में, कई पैरामीटर जिन पर विचार करने की आवश्यकता होती है, वे हैं परीक्षण जांच की दूरी, परीक्षण की जाने वाली वस्तु के उपयुक्त सिर प्रकार का चयन, परीक्षण द्वारा किया जाने वाला प्रवाह, परीक्षण गति का स्ट्रोक , और लोचदार बल जिसे चुनने की आवश्यकता है, आदि।

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